Pindepaksusetalonide kalibreerimise meetod
Patentne leiutis: Pindepaksusetalonide kalibreerimise meetod; Omanikud: Tallinna Tehnikaülikool; Autorid: Rein Laaneots, Indrek Abiline, Mats-Maidu Nanits, Jürgen Riim; Prioriteedi number: EE200600042; Prioriteedi kuupäev: 22.12.2006.
Patentne leiutis
Pindepaksusetalonide kalibreerimise meetod
Method for calibration of coating thickness standards
Saksakeelne pealkiri: Methode zur Kalibrierung von Schichtdickennormalen. Pindepaksusetalonide kalibreerimise meetod võimaldab teostada etaloni kalibreerimisel pinde paksuse mõõtmist vastavuses pinde paksuse määratlusele, s.t mõõta vahemaad pinde alumise ja ülemise piirpinna vahel. Seejuures on võimalik pinde paksus välja arvutada vastavalt vajadusele, kas pinde paksusena etaloni pealispinna etteantud punktides või keskmise aritmeetilise paksusena või kaalutud keskmise paksusena etaloni etteantud aluse pinnal, kuna meetod võimaldab määratleda mõõteandmete põhjal topograafiliselt nii pinde ja aluse vahelise piirpinna kui ka pinde ja ümbritseva keskkonna vahelise piirpinna. Pinde paksuse määratlusele vastav otsene pinde paksuse mõõtmine esitatud meetodis kogu pinde alus- ja pealispinna topograafiat iseloomustavate mõõteandmete saamisega pindade kontaktivaba või kontaktmeetodil kompamise teel tõstab tunduvalt pindepaksusetalonide kalibreerimise täpsust
The method for calibrating coating thickness reference standards enables to perform coating thickness measurements at reference standard calibration according to the definition of the coating thickness, measuring therefore distance between the upper and lower limiting surfaces. The coating thickness could be calculated according to the actual need either as coating thickness at certain points on the standard surface or as arithmetic mean thickness or weighted average thickness on the standard base surface. The method enables to determine topographically both the separating surface of the coating and base and the separating surface of the coating and surrounding environment according to the measurement data. The presented direct coating thickness measurement method utilizing the whole topography of the coating ground and upper surface got by contactless or contact measurement raises considerably the accuracy of the coating thickness standards calibration
Prioriteeditaotlus
22.12.2006
EE200600042
Rahvusvaheline (IPC)
G01B7/06
Eesti Patendiamet
Eesti Vabariik
Kaitstud
Järgnevad taotlused (1)
KuupäevNumberPatendiametRiikURLFailStaatus
21.12.2007DE102007062966.6Saksamaa LiitvabariikDE102007062966A1Kaitstud
Välja antud kaitsedokumendid (1)
KuupäevNumberPatendiametKehtiv kuniVolinikRiikURLFailStaatus
15.04.2009EE05164B1EE05164B1Kaitstud