See veebileht kasutab küpsiseid kasutaja sessiooni andmete hoidmiseks. Veebilehe kasutamisega nõustute ETISe kasutustingimustega. Loe rohkem
Olen nõus
Meetod ja seade sageduskarakteristiku mõõtmiseks
Patentne leiutis: Meetod ja seade sageduskarakteristiku mõõtmiseks; Omanikud: Tallinna Tehnikaülikool; Autorid: Olev Märtens, Mart Min, Jaan Ojarand, Raul Land, Marek Rist; Prioriteedi number: P201700005; Prioriteedi kuupäev: 1.02.2017.
Patentne leiutis
Meetod ja seade sageduskarakteristiku mõõtmiseks
Method and device for frequency response measurement
Prioriteeditaotlus
1.02.2017
P201700005
Rahvusvaheline (IPC)
Eesti Vabariik
Kaitstud
Välja antud kaitsedokumendid (1)
KuupäevNumberPatendiametKehtiv kuniVolinikRiikURLFailStaatus
15.11.2018EE05813B1Eesti VabariikEE05813B1Kaitstud