See veebileht kasutab küpsiseid kasutaja sessiooni andmete hoidmiseks. Veebilehe kasutamisega nõustute ETISe kasutustingimustega. Loe rohkem
Olen nõus
Meetod aine suhtelise dielektrilise läbitavuse mõõtmise täpsuse tõstmiseks
Kasulik mudel: Meetod aine suhtelise dielektrilise läbitavuse mõõtmise täpsuse tõstmiseks; Omanikud: Tiit Plakk; Autorid: Tiit Plakk; Prioriteedi number: U200900033; Prioriteedi kuupäev: 3.04.2009.
Kasulik mudel
Meetod aine suhtelise dielektrilise läbitavuse mõõtmise täpsuse tõstmiseks
Meetod aine suhtelise dielektrilise läbitavuse mõõtmise täpsuse tõstmiseks
  • Tiit Plakk
Prioriteeditaotlus
3.04.2009
U200900033
Rahvusvaheline (IPC)
G01N27/22
Kaitstud
Välja antud kaitsedokumendid (1)
KuupäevNumberPatendiametKehtiv kuniVolinikRiikURLFailStaatus
15.07.2009EE00854U1Kaitstud