See veebileht kasutab küpsiseid kasutaja sessiooni andmete hoidmiseks. Veebilehe kasutamisega nõustute ETISe kasutustingimustega. Loe rohkem
Olen nõus
Pinna valguse peegeldust iseloomustavate suuruste mõõtemeetod ja selle sooritamise mõõtevahend
Patentne leiutis: Pinna valguse peegeldust iseloomustavate suuruste mõõtemeetod ja selle sooritamise mõõtevahend; Omanikud: Tallinna Tehnikaülikool; Autorid: Toivo Varjas, Rein Laaneots, Argo Rosin; Prioriteedi number: P201900029; Prioriteedi kuupäev: 19.12.2019.
Patentne leiutis
Pinna valguse peegeldust iseloomustavate suuruste mõõtemeetod ja selle sooritamise mõõtevahend
Method and instrument for characteristics measurement of light reflection
Prioriteeditaotlus
19.12.2019
P201900029
Rahvusvaheline (IPC)
Eesti Vabariik
Kaitstud
Järgnevad taotlused (1)
KuupäevNumberPatendiametRiikURLFailStaatus
17.12.2020EP20214860.7Euroopa PatendiametMuu...Kaitstud