Meetod ja seade sageduskarakteristiku mõõtmiseks
Patentne leiutis: Meetod ja seade sageduskarakteristiku mõõtmiseks; Omanikud: Tallinna Tehnikaülikool, ELIKO Tehnoloogia Arenduskeskus OÜ; Autorid: Olev Märtens, Mart Min, Raul Land, Paul Annus, Tõnis Saar, Marko Reidla; Prioriteedi number: P201000060; Prioriteedi kuupäev: 7.07.2010.
Patentne leiutis
Meetod ja seade sageduskarakteristiku mõõtmiseks
Method and device for frequency response measurement
Prioriteeditaotlus
7.07.2010
P201000060
Rahvusvaheline (IPC)
Eesti Vabariik
Kaitstud
Järgnevad taotlused (1)
KuupäevNumberPatendiametRiikURLFailStaatus
7.07.2011US13/177961Ameerika ÜhendriigidUS2012007583A1Kaitstud
Välja antud kaitsedokumendid (2)
KuupäevNumberPatendiametKehtiv kuniVolinikRiikURLFailStaatus
17.12.2012EE5616B1EE5616B1Kaitstud
7.10.2014US8854030B2US8854030B2Kaitstud