Способ измерения толщины покрытий
Patentne leiutis: Способ измерения толщины покрытий; Omanikud: Tallinna Tehnikaülikool; Autorid: Mart Tamre, Maido Ajaots, Rein Laaneots; Prioriteedi number: SU19864197550; Prioriteedi kuupäev: 24.12.1986.
Patentne leiutis
Способ измерения толщины покрытий
Device for Measuring Coating Thickness
Prioriteeditaotlus
24.12.1986
SU19864197550
Rahvusvaheline (IPC)
G01B5/06; G01B5/02
NSVL
Venemaa Föderatsioon
Lõpetatud
Välja antud kaitsedokumendid (1)
KuupäevNumberPatendiametKehtiv kuniVolinikRiikURLFailStaatus
15.10.1988SU1430723SU1430723Lõpetatud