Patentne leiutis: Meetod teravikmikroskoobi teravike ja objekti puhastamiseks; Omanikud: Tartu Ülikool, Eesti Nanotehnoloogiate Arenduskeskuse AS ; Autorid: Sergei Vlassov, Ants Lõhmus, Rünno Lõhmus, Ilmar Kink, Jevgeni Šulga; Prioriteedi number: P200700031; Prioriteedi kuupäev: 12.06.2007.