See veebileht kasutab küpsiseid kasutaja sessiooni andmete hoidmiseks. Veebilehe kasutamisega nõustute ETISe kasutustingimustega. Loe rohkem
Olen nõus
Meetod teravikmikroskoobi teravike ja objekti puhastamiseks
Patentne leiutis: Meetod teravikmikroskoobi teravike ja objekti puhastamiseks; Omanikud: Tartu Ülikool, Eesti Nanotehnoloogiate Arenduskeskuse AS ; Autorid: Sergei Vlassov, Ants Lõhmus, Rünno Lõhmus, Ilmar Kink, Jevgeni Šulga; Prioriteedi number: P200700031; Prioriteedi kuupäev: 12.06.2007.
Patentne leiutis
Meetod teravikmikroskoobi teravike ja objekti puhastamiseks
Meetod of cleaning the atomic force microscopy tip and the sample
Prioriteeditaotlus
12.06.2007
P200700031
Rahvusvaheline (IPC)
Eesti Patendiamet
Eesti Vabariik
Lõpetatud
Välja antud kaitsedokumendid (1)
KuupäevNumberPatendiametKehtiv kuniVolinikRiikURLFailStaatus
15.02.2012EE05525Eesti Patendiamet31.12.2012www.epa.ee/patent/andmed.asp?NroParam=P200700031&ID=X553253&NID=&offset=&HKR=Lõpetatud