Impedantsi binaarse ergutusega analüüsi meetod ja seade
Patentne leiutis: Impedantsi binaarse ergutusega analüüsi meetod ja seade; Omanikud: Tallinna Tehnikaülikool, ELIKO Tehnoloogia Arenduskeskus OÜ; Autorid: Olev Märtens, Raul Land, Mart Min, Paul Annus, Marko Reidla; Prioriteedi number: P201500014; Prioriteedi kuupäev: 20.04.2015.
Patentne leiutis
Impedantsi binaarse ergutusega analüüsi meetod ja seade
Method and device for impedance analyzer with binary excitation
Prioriteeditaotlus
20.04.2015
P201500014
Rahvusvaheline (IPC)
Eesti Vabariik
Kaitstud
Järgnevad taotlused (1)
KuupäevNumberPatendiametRiikURLFailStaatus
19.04.2016US15/132,381USPTOAmeerika ÜhendriigidUS2016305996A1Kaitstud
Välja antud kaitsedokumendid (2)
KuupäevNumberPatendiametKehtiv kuniVolinikRiikURLFailStaatus
15.02.2017EE05788B1Eesti VabariikEE05788B1Kaitstud
18.12.2018US10156600B2Ameerika ÜhendriigidUS10156600B2Kaitstud