Мера толщины пленки для поверки и градуировки толщиномеров
Patentne leiutis: Мера толщины пленки для поверки и градуировки толщиномеров; Omanikud: Tallinna Tehnikaülikool; Autorid: Rein Laaneots; Prioriteedi number: SU19853987784; Prioriteedi kuupäev: 6.12.1985.
Patentne leiutis
Мера толщины пленки для поверки и градуировки толщиномеров
Film thickness standard for calibration checking and calibration of thickness gauges
Prioriteeditaotlus
6.12.1985
SU19853987784
Rahvusvaheline (IPC)
G01B7/06; G01B7/02
NSVL
Venemaa Föderatsioon
Lõpetatud
Välja antud kaitsedokumendid (1)
KuupäevNumberPatendiametKehtiv kuniVolinikRiikURLFailStaatus
30.04.1987SU1307225NSVLSU1307225Lõpetatud