Testability driven BIST for sequential circuits

Rein Raidma, magistrikraad (teaduskraad), 2003, (juh) Jaan Raik, Testability driven BIST for sequential circuits, Tallinna Tehnikaülikool, Infotehnoloogia teaduskond, Arvutitehnika instituut.
magistrikraad (teaduskraad)
Kaitstud
Ei
1.09.2001
2003
Testability driven BIST for sequential circuits
Testability driven BIST for sequential circuits