See veebileht kasutab küpsiseid kasutaja sessiooni andmete hoidmiseks. Veebilehe kasutamisega nõustute ETISe kasutustingimustega. Loe rohkem
Olen nõus

Residual stress determination in chemically strengthened and thermally tempered glass plates using scattered light method

Siim Hödemann, doktorikraad, 2019, (juh) Jaak Kikas; Eric Robert Tkaczyk, Residual stress determination in chemically strengthened and thermally tempered glass plates using scattered light method (Jääkpingete sügavusprofiili mõõtmine keemiliselt tugevdatud ja termiliselt karastatud klaasplaatides kasutades hajununud valguse meetodit), Tartu Ülikool, Loodus- ja täppisteaduste valdkond, füüsika instituut.
Siim Hödemann
doktorikraad
Kaitstud
Jah
20.11.2018
12.03.2019
2019
Inglise
Residual stress determination in chemically strengthened and thermally tempered glass plates using scattered light method
Jääkpingete sügavusprofiili mõõtmine keemiliselt tugevdatud ja termiliselt karastatud klaasplaatides kasutades hajununud valguse meetodit
Residual stress determination in chemically strengthened and thermally tempered glass plates using scattered light method
ETIS klassifikaatorAlamvaldkondCERCS klassifikaator
4. Loodusteadused ja tehnika4.12. Protsessitehnoloogia ja materjaliteadusT150 Materjalitehnoloogia
4. Loodusteadused ja tehnika4.10. FüüsikaP200 Elektromagnetism, optika, akustika
4. Loodusteadused ja tehnika4.10. FüüsikaP250 Tahke aine: struktuur, termilised ja mehhaanilised omadused, kristallograafia, phase equilibria