Residual stress determination in chemically strengthened and thermally tempered glass plates using scattered light method
Siim Hödemann, doktorikraad, 2019, (juh) Jaak Kikas; Eric Robert Tkaczyk, Residual stress determination in chemically strengthened and thermally tempered glass plates using scattered light method (Jääkpingete sügavusprofiili mõõtmine keemiliselt tugevdatud ja termiliselt karastatud klaasplaatides kasutades hajununud valguse meetodit), Tartu Ülikool, Loodus- ja täppisteaduste valdkond, füüsika instituut.
doktorikraad
Kaitstud
Jah
20.11.2018
12.03.2019
2019
Inglise
Residual stress determination in chemically strengthened and thermally tempered glass plates using scattered light method
Jääkpingete sügavusprofiili mõõtmine keemiliselt tugevdatud ja termiliselt karastatud klaasplaatides kasutades hajununud valguse meetodit
Residual stress determination in chemically strengthened and thermally tempered glass plates using scattered light method
| ETIS klassifikaator | Alamvaldkond | CERCS klassifikaator |
|---|---|---|
| 4. Loodusteadused ja tehnika | 4.12. Protsessitehnoloogia ja materjaliteadus | T150 Materjalitehnoloogia |
| 4. Loodusteadused ja tehnika | 4.10. Füüsika | P200 Elektromagnetism, optika, akustika |
| 4. Loodusteadused ja tehnika | 4.10. Füüsika | P250 Tahke aine: struktuur, termilised ja mehhaanilised omadused, kristallograafia, phase equilibria |