Defect Oriented Automated Test Pattern Generation for Standard Cell ASIC Designs (Darmstadti Tehnikaülikool)

Joachim Sudbrock, magistrikraad (teaduskraad), 2005, (juh) Raimund Ubar; Jaan Raik, Defect Oriented Automated Test Pattern Generation for Standard Cell ASIC Designs (Darmstadti Tehnikaülikool), Tallinna Tehnikaülikool, Infotehnoloogia teaduskond, Arvutitehnika instituut.
magistrikraad (teaduskraad)
Kaitstud
Ei
1.09.2004
2005
Inglise
Defect Oriented Automated Test Pattern Generation for Standard Cell ASIC Designs (Darmstadti Tehnikaülikool)