IMPROVING THE DIAGNOSTIC RESOLUTION OF RANDOMLY GENERATED TEST SET IN DIGITAL CIRCUIT

Ovie Osimiry, magistrikraad, 2016, (juh) Raimund Ubar, IMPROVING THE DIAGNOSTIC RESOLUTION OF RANDOMLY GENERATED TEST SET IN DIGITAL CIRCUIT, Tallinna Tehnikaülikool, Infotehnoloogia teaduskond, Arvutisüsteemide instituut.
magistrikraad
Kaitstud
Ei
1.09.2015
15.06.2016
2016
Inglise
IMPROVING THE DIAGNOSTIC RESOLUTION OF RANDOMLY GENERATED TEST SET IN DIGITAL CIRCUIT
ETIS klassifikaatorAlamvaldkondCERCS klassifikaator
4. Loodusteadused ja tehnika4.6. ArvutiteadusedT120 Süsteemitehnoloogia, arvutitehnoloogia