Genetic Algorithms in Test Pattern Generation

Eero Ivask, magistrikraad (teaduskraad), 1998, (juh) Raimund Ubar, Genetic Algorithms in Test Pattern Generation, Tallinna Tehnikaülikool, Infotehnoloogia teaduskond, Arvutitehnika instituut.
Eero Ivask
magistrikraad (teaduskraad)
Kaitstud
Ei
1.09.1995
1998
Inglise
Genetic Algorithms in Test Pattern Generation