Genetic Algorithms in Test Pattern Generation
Eero Ivask, magistrikraad (teaduskraad), 1998, (juh) Raimund Ubar, Genetic Algorithms in Test Pattern Generation, Tallinna Tehnikaülikool, Infotehnoloogia teaduskond, Arvutitehnika instituut.
magistrikraad (teaduskraad)
Kaitstud
Ei
1.09.1995
1998
Inglise
Genetic Algorithms in Test Pattern Generation