"Muu" projekt ELIKO 2.2
ELIKO 2.2 "Hajus- ja sardsüsteemide testimine, verifitseerimine ning diagnostika (1.07.2009−30.06.2015)", Jüri Vain, ELIKO Tehnoloogia Arenduskeskus OÜ.
ELIKO 2.2
Hajus- ja sardsüsteemide testimine, verifitseerimine ning diagnostika
Test, Verification and Diagnosis of Distributed and Embedded Systems
1.07.2009
30.06.2015
Teadus- ja arendusprojekt
Muu
ETIS klassifikaatorAlamvaldkondCERCS klassifikaatorFrascati Manual’i klassifikaatorProtsent
4. Loodusteadused ja tehnika4.6. ArvutiteadusedP170 Arvutiteadus, arvutusmeetodid, süsteemid, juhtimine (automaatjuhtimisteooria)1.1. Matemaatika ja arvutiteadus (matemaatika ja teised sellega seotud teadused: arvutiteadus ja sellega seotud teadused (ainult tarkvaraarendus, riistvara arendus kuulub tehnikavaldkonda)33,0
4. Loodusteadused ja tehnika4.7. Info- ja kommunikatsioonitehnoloogiaT121 Signaalitöötlus 2.2. Elektroenergeetika, elektroonika (elektroenergeetika, elektroonika, sidetehnika, arvutitehnika ja teised seotud teadused)33,0
4. Loodusteadused ja tehnika4.8. Elektrotehnika ja elektroonikaT170 Elektroonika 2.2. Elektroenergeetika, elektroonika (elektroenergeetika, elektroonika, sidetehnika, arvutitehnika ja teised seotud teadused)34,0
AsutusRollPeriood
ELIKO Tehnoloogia Arenduskeskus OÜkoordinaator01.07.2009−30.06.2015
AsutusRiikTüüp
Ettevõtluse Arendamise Sihtasutus
PerioodSumma
01.07.2009−30.06.20151 826 248,00 EUR
1 826 248,00 EUR
Tehnoloogia arenduskeskuste programm

Projekti eesmärk on väljatöötada mudelipõhise testimise metodoloogia hajus- ja sardsüsteemidele, sellega seotud testimiskeskkond ja formaalsed meetodid, mis toetavad automaatset testide genereerimist, täitmist, testitulemuste analüüsi ja vigade diagnostikat. Loodavad meetodid ja vahendid võimaldavad testi-/verifitseerimise komponentide nii tsentraliseeritud kui hajuskoordinatsiooni.
The objective of the project is to develop a mode-based testing methodology, a framework and a pool of related formal methods that support test generation and execution for distributed and embedded systems with both centralized and decentralized control up to fully distributed coordination of test components, posteriory test result analysis and fault diagnosis.
KirjeldusProtsent
Rakendusuuring100,0
http://www.eliko.ee