See veebileht kasutab küpsiseid kasutaja sessiooni andmete hoidmiseks. Veebilehe kasutamisega nõustute ETISe kasutustingimustega. Loe rohkem
Olen nõus
"Muu" projekt T244
T244 "Digitaalsüsteemide projekteerimise ja diagnostika alased uuringud, väljatöötlused ja rakendused (1.01.1998−31.12.2002)", Raimund Ubar, Tallinna Tehnikaülikool, Tallinna Tehnikaülikool, Infotehnoloogia teaduskond, Arvutitehnika instituut, Arvutisüsteemide diagnostika ja verifitseerimise õppetool .
0140244s98
T244
Digitaalsüsteemide projekteerimise ja diagnostika alased uuringud, väljatöötlused ja rakendused
Research and development in the field of design and diagnostics of digital systems
Digitaalsüsteemide projekteerimise ja diagnostika alased uuringud, väljatöötlused ja rakendused
1.01.1998
31.12.2002
Teadus- ja arendusprojekt
Muu
ValdkondAlamvaldkondCERCS erialaFrascati Manual’i erialaProtsent
4. Loodusteadused ja tehnika4.6. ArvutiteadusedT120 Süsteemitehnoloogia, arvutitehnoloogia1.1. Matemaatika ja arvutiteadus (matemaatika ja teised sellega seotud teadused: arvutiteadus ja sellega seotud teadused (ainult tarkvaraarendus, riistvara arendus kuulub tehnikavaldkonda)100,0
AsutusRiikTüüp
Haridus- ja Teadusministeerium
PerioodSumma
01.01.1998−31.12.20026 540 000,00 EEK (417 982,18 EUR)
417 982,18 EUR
muu - > Sihtfinantseerimine

"Projekti eesmärgiks oli uurida ja väljatöötada uusi meetodeid digitaalsüsteemide riist- ja tarkvaraliseks koosdisainiks, analüüsiks, simuleerimiseks ja verifitseerimiseks, süsteemide veakindluse tostmiseks, madala energiatarbega skeemide sünteesiks, testprogrammide automaatseks genereerimiseks ja rikete diagnostikaks. Nimetatud eesmärk kirjeldab üsnagi kokkuvotlikult arvutitehnika instituudis läbiviidava teadustöö temaatikat ja viimase viie aasta tulemused katavad pea täielikult nimetatud valdkonna. Saadi rida fundamentaalse väärtusega tulemusi digitaalsüsteemide diagnostilise modelleerimise valdkonnas, loodi uued otsustusdiagrammide teoorial pohinevad matemaatilised mudelid digitaalsüsteemide jaoks. Töötati välja uusi meetodeid, algoritme ja tarkvara süsteemide simuleerimiseks, diagnostiliseks analüüsiks, verifitseerimiseks, disainivigade ja rikete diagnostikaks ning testprogrammide automaatseks sünteesiks. Uute meetodite originaalsus ja uudsus seisnevad ühtse matemaatilise instrumentaariumi loomises ning edasiarenduses keerukate digitaalsüsteemide diagnostikaks erinevatel abstraktsioonitasanditel voimaldamaks ühtaegu lahendada süsteemide keerukuse probleemi kui ka tagada analüüsi täpsust ning usaldatavust. Valitud publikatsioonid: 1. Raik, J.; Ubar, R (2000). Fast test pattern generation for sequential circuits using decision diagram representations. Journal of Electronic Testing-Theory and Applications, 16(3), 213 - 226. 2. Ellervee, P.; Miranda, M.; Catthoor, F.; Hemani, A. (2001). System-level Data-Format Exploration for Dynamically Allocated Data Structures. IEEE Transactions on CAD, 20(12), 1469 - 1472. 3. Ubar, R. (1998). Multi-valued simulation of digital circuits with structurally synthesized binary decision diagrams. Multiple valued logic, 4, 141 - 157"
"The goal of the project was to investigate new methods for HW/SW codesign, analysis, simulation, verification and increasing the fault-tolerance of digital systems, low-power design, automated test program generation and fault diagnosis. This goal describes in a compact way the activities of the Computer Engineering Department during the last five years. As the result of the project a new approach was developed for diagnostic modelling of digital systems based on decision diagrams (DD) including traditional Binary DDs (BDD), Structurally Synthesized BDDs and High-Level DDs. New methods and algorithms were developed based on this DD-approach for test generation and fault simulation which allowed to improve the efficiency of fault analysis compared to the known methods. The novelty of the new DD-based model was in creating of a uniform mathematical basis for diagnostic modelling of digital systems which allowed to cope better with the complexity problem and to increase the accuracy of simulation. Selected publications: 1. Raik, J.; Ubar, R (2000). Fast test pattern generation for sequential circuits using decision diagram representations. Journal of Electronic Testing-Theory and Applications, 16(3), 213 - 226. 2. Ellervee, P.; Miranda, M.; Catthoor, F.; Hemani, A. (2001). System-level Data-Format Exploration for Dynamically Allocated Data Structures. IEEE Transactions on CAD, 20(12), 1469 - 1472. 3. Ubar, R. (1998). Multi-valued simulation of digital circuits with structurally synthesized binary decision diagrams. Multiple valued logic, 4, 141 - 157."
TegevusProtsent
Alusuuring100,0