See veebileht kasutab küpsiseid kasutaja sessiooni andmete hoidmiseks. Veebilehe kasutamisega nõustute ETISe kasutustingimustega. Loe rohkem
Olen nõus
"Muu" projekt F9022
F9022 "EAS eeluuring - Kõrgtasemel töötava mikroelektroonika kiipide projekteerimisvigade diagnostikameetodi väljaarendamine - DIAGNOSIS (9.02.2009−1.04.2009)", Jaan Raik, Tallinna Tehnikaülikool, Tallinna Tehnikaülikool, Infotehnoloogia teaduskond, Arvutitehnika instituut, Arvutisüsteemide diagnostika ja verifitseerimise õppetool .
F9022
EAS eeluuring - Kõrgtasemel töötava mikroelektroonika kiipide projekteerimisvigade diagnostikameetodi väljaarendamine - DIAGNOSIS
Enterprise Estonia funded preliminary research - Development of high-level design error diagnosis method for integrated circuits - DIAGNOSIS
EAS eeluuring - Kõrgtasemel töötava mikroelektroonika kiipide projekteerimisvigade diagnostikameetodi väljaarendamine - DIAGNOSIS
9.02.2009
1.04.2009
Teadus- ja arendusprojekt
Muu
EAS toetus
ETIS klassifikaatorAlamvaldkondCERCS klassifikaatorFrascati Manual’i klassifikaatorProtsent
4. Loodusteadused ja tehnika4.6. ArvutiteadusedT120 Süsteemitehnoloogia, arvutitehnoloogia1.1. Matemaatika ja arvutiteadus (matemaatika ja teised sellega seotud teadused: arvutiteadus ja sellega seotud teadused (ainult tarkvaraarendus, riistvara arendus kuulub tehnikavaldkonda)100,0
AsutusRiikTüüp
Ettevõtluse Arendamise Sihtasutus/ Enterprise Estonia
PerioodSumma
09.02.2009−01.04.2009182 822,00 EEK (11 684,46 EUR)
11 684,46 EUR

Käesoleva eeluuringu raames on Tallinna Tehnikaülikooli Arvutitehnika Instituudil plaanis uurida võimalusi kõrgtasemel töötava diagnostikameetodi loomiseks mikroelektroonika kiipide projekteerimisvigade määramiseks, mis võimaldaks vigade automaatset lokaliseerimist suure keerukusega skeemidel. Eeluuringu käigus viidi läbi patendiuuring tehnikataseme kindlaksmääramiseks antud valdkonnas ning projekti tulemusena valmis Euroopa 7. RP uurimisprojekti DIAMOND taotlus.
In the frame of current preliminary research project TUT plans to research the feasibility of developing high-level design error diagnosis method for complex integrated circuits, which would allow automated localisation of such errors. As a result of the preliminary research project a patent study was carried out in order to assess current state of technology in the field. In addition, a EC FP7 research proposal DIAMOND was initiated and submitted.
KirjeldusProtsent
Alusuuring100,0