See veebileht kasutab küpsiseid kasutaja sessiooni andmete hoidmiseks. Veebilehe kasutamisega nõustute ETISe kasutustingimustega. Loe rohkem
Olen nõus
"Muu" projekt VFP608
VFP608 "Elektroonikasüsteemide testi-instrumendid tehnoloogia vananemise vältimiseks ja diagnoosimatute rikete avastamiseks (BASTION) (1.01.2014−31.12.2016)", Jaan Raik, Tallinna Tehnikaülikool, Tallinna Tehnikaülikool, Infotehnoloogia teaduskond, Arvutitehnika instituut, Arvutisüsteemide diagnostika ja verifitseerimise õppetool .
VFP608
Elektroonikasüsteemide testi-instrumendid tehnoloogia vananemise vältimiseks ja diagnoosimatute rikete avastamiseks (BASTION)
Board and SoC Test Instrumentation for Ageing and No-Failure-Found (BASTION)
Board and SoC Test Instrumentation for Ageing and No-Failure-Found (BASTION)
1.01.2014
31.12.2016
Teadus- ja arendusprojekt
Muu
ValdkondAlamvaldkondCERCS erialaFrascati Manual’i erialaProtsent
4. Loodusteadused ja tehnika4.8. Elektrotehnika ja elektroonikaT171 Mikroelektroonika 2.2. Elektroenergeetika, elektroonika (elektroenergeetika, elektroonika, sidetehnika, arvutitehnika ja teised seotud teadused)100,0
AsutusRiikTüüp
Euroopa Komisjon
PerioodSumma
01.01.2014−31.12.2016364 865,00 EUR
364 865,00 EUR
VII raamprogramm, IKT STREP uurimisprojekt

Projekti üldeesmärgiks on tehnoloogia vananemise ja diagnoositamatute vigade uurimine uutes nanoelektroonilistes protsessides. Projekti oodatavateks tulemusteks on defektide klassifitseerimine ning vananemisprotsessi uurimine uutes tehnoloogiates. Väljatöötatavate sard-testinstrumentide lahendused tuginevad IEEE P1687 standardile.
A group of European experts will jointly research ageing and NFF issues in modern nanoelectronics technologies. The project will investigate currently unknown defects, uncertain fault coverage and unclassified field returns. A new defect universe will be assembled and faults will be classified into comprehensive classes. BASTION will study the mechanisms of ageing and improve the longevity of electronic products. Embedded instrumentation and the IEEE P1687 standard will be applied to develop an ultra-low-latency, scalable error detection and localization infrastructure as well as to integrate all heterogeneous technologies into a homogeneous system.
TegevusProtsent
Alusuuring100,0