Taotletava teadusteema raames uuritakse kristalliliste ja amorfsete tahkiste, eelkõige dielektrikute ja pooljuhtide, pindu ning pinna- ja siirdekihte spektroskoopia, difraktsiooni ja mikroskoopia meetoditega, sh skaneerivate teravike ja lokaalsete kiirgus- ja/või osakeste sondidega. Arendatakse edasi meetodeid tahkisepindade kontrollitavaks modifitseerimiseks füüsikaliste ja keemiliste meetoditega ning vahendeid tahkisepindadel toimuvate reaktsioonide reaalajaliseks jälgimiseks.
Teema põhieesmärkideks on pinna-analüüsi meetodite ja aparatuurse baasi edasiarendamine, uute baasteadmiste saamine uuritavate materjalide ja kasutatud protsesside kohta ning nende teadmiste rakendamine uudsete tehnoloogiliste võtete ning parendatud omadustega pinnakattematerjalide ja seadiste, sh funktsionaalsete pinnakatete ja pooljuht-gaasisensorite, väljatöötamisel.
Within the targeted scientific theme surfaces as well as surface and interface layers of crystalline and amorphous solid materials, particularly those of dielectrics and semiconductors, will be investigated with spectroscopy, difraction and microscopy methods, including those based on scanning probes and focussed radiation and/or particle beams. The physical and chemical methods for controllable modification of solid surfaces and means for real-time monitoring of surface reactions will be advanced.
The main goals of the theme are development of the methods and equipment for surface analysis, obtaining new fundamental knowledge on the materials studied and processing technologies used, and application of this knowledge in development of surface coatings and devices, e.g. functional surface coatings and semiconductor gas sensors, with improved characteristics.