"Eesti Teadusfondi uurimistoetus" projekt ETF5649
ETF5649 (ETF5649) "Digitaalskeemide defekt-orienteeritud diagnostika (1.01.2003−31.12.2006)", Raimund Ubar, Tallinna Tehnikaülikool, Infotehnoloogia teaduskond.
ETF5649
Digitaalskeemide defekt-orienteeritud diagnostika
Defect-Oriented Testing of Digital Circuits
1.01.2003
31.12.2006
Teadus- ja arendusprojekt
Eesti Teadusfondi uurimistoetus
ValdkondAlamvaldkondCERCS erialaFrascati Manual’i erialaProtsent
4. Loodusteadused ja tehnika4.8. Elektrotehnika ja elektroonikaT200 Soojustehnika, rakenduslik termodünaamika 2.2. Elektroenergeetika, elektroonika (elektroenergeetika, elektroonika, sidetehnika, arvutitehnika ja teised seotud teadused)100,0
PerioodSumma
01.01.2003−31.12.2003160 000,00 EEK (10 225,86 EUR)
01.01.2004−31.12.2004165 000,00 EEK (10 545,42 EUR)
01.01.2005−31.12.2005155 294,12 EEK (9 925,10 EUR)
01.01.2006−31.12.2006158 400,00 EEK (10 123,61 EUR)
40 819,99 EUR

Töö eesmärgiks on töötada välja uusi meetodeid, algoritme ja tarkvara tööriistu defekt-orienteeritud testide genereerimiseks ja rikete simuleerimiseks. Põhiprobleemideks, mida töös on kavas uurida on: - füüsikaliste defektide diagnostiline modelleerimine ja kujutamine simuleerimise kõrgematel tasanditel, - defektide diagnostiline modellerimine juhtudel, kui defektist tingituna muutub skeemide klass, - defektide hierarhiline simuleerimine keerukates digitaalskeemides - defekt-orienteeritud testide genereerimine keerukates digitaalskeemides Projekti oodatavateks tulemusteks on: - uus Boole'i differentsiaalalgebral põhinev defektide analüüsimeetod skeemikomponentides, - meetod, mis võimaldab diagnostika eesmärgil kujutada transistorskeemide füüsikalisi defekte kõrgematel loogika- ja registersiirete tasanditel - uus meetod ja algoritmid defekt-orienteeritud rikete hierarhiliseks simuleerimiseks digitaalskeemides - uus meetod ja algoritmid defekt-orienteeritud rikete hierarhiliseks testide genereerimiseks digitaalskeemides - tarkvaratööriistade välja töötamine rikete hierarhiliseks simuleerimiseks digitaalskeemides, - tarkvaratööriistade välja töötamine hierarhiliseks testide genereerimiseks digitaalskeemides, - eksperimentide läbi viimine uute meetodite, algoritmide ja tarkvaratööriistade efektiivsuse kindlaks tegemiseks ja võrdlemiseks olemasolevate meetodite ja tööriistadega
The main goal of the current project is to develop new methods, algorithms and software tools for defect-oriented test generation and fault simulation in digital circuits. The main problems and objectives to be investigated are: diagnostic modeling of physical defects and mapping them to the higher levels of simulation diagnostic modeling of a special class of physical defects which change the class of the circuit (increase the number of states in the circuit) hierarchical defect simulation in complex digital circuits hierarchical defect-oriented test generation for complex digital circuits The following outcome of the new project is expected: a new Boolean differential algebra based analytical approach for defect analysis in the components of digital circuits, a method that allows to represent physical defects on logical and higher register transfer levels for diagnostic purposes, a new method and algorithms for hierarchical defect-oriented fault simulation in complex circuits, a new method and algorithms for hierarchical test generation in digital circuits, software tools for hierarchical defect-oriented test generation and fault simulation in digital circuits, experimental research on hierarchical defect oriented fault simulation and test generation with the goal to prove the efficiency of new methods compared to the existing available methods and tools.