At-speed on-chip diagnosis of board-level interconnect faults

Jutman, Artur (2004). At-speed on-chip diagnosis of board-level interconnect faults. ETS 2004: Ninth IEEE European Test Symposium Proceedings (2−7).. Los Alamitos: IEEE.
kogumikuartikkel/peatükk raamatus/kogumikus
Jutman, Artur
ETS 2004: Ninth IEEE European Test Symposium Proceedings
Los Alamitos
IEEE
0-7695-2119-3
2004
27
Ilmunud
3.1. Artiklid/peatükid lisas loetletud kirjastuste välja antud kogumikes (kaasa arvatud Thomson Reuters Book Citation Index, Thomson Reuters Conference Proceedings Citation Index, Scopus refereeritud kogumikud)

Viited terviktekstile

Seotud asutused

Lisainfo