See veebileht kasutab küpsiseid kasutaja sessiooni andmete hoidmiseks. Veebilehe kasutamisega nõustute ETISe kasutustingimustega. Loe rohkem
Olen nõus

Fault Oriented Test Pattern Generation for Sequential Circuits Using Genetical Algorithms

Ivask, Eero; Raik, Jaan; Ubar, Raimund (2006). Fault Oriented Test Pattern Generation for Sequential Circuits Using Genetical Algorithms. Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK aastakonverentsi kogumik (21−25).. Tallinna Tehnikaülikool.
kogumikuartikkel/peatükk raamatus/kogumikus
Ivask, Eero; Raik, Jaan; Ubar, Raimund
Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK aastakonverentsi kogumik
Tallinna Tehnikaülikool
9985-59-624-2
2006
2125
Ilmunud
3.5. Artiklid/ettekanded, mis on avaldatud kohalikes konverentsikogumikes

Viited terviktekstile

Lisainfo