See veebileht kasutab küpsiseid kasutaja sessiooni andmete hoidmiseks. Veebilehe kasutamisega nõustute ETISe kasutustingimustega. Loe rohkem
Olen nõus

Comparative analysis of sequential circuit test generation approaches

Raik, Jaan; Krivenko, Anna; Ubar, Raimund (2004). Comparative analysis of sequential circuit test generation approaches. BEC 2004 : proceedings of the 9th Biennial Baltic Electronics Conference : October 3-6, 2004, Tallinn, Estonia, 225−228.
ajakirjaartikkel
Raik, Jaan; Krivenko, Anna; Ubar, Raimund
BEC 2004 : proceedings of the 9th Biennial Baltic Electronics Conference : October 3-6, 2004, Tallinn, Estonia
2004
225228
Ilmunud
3.1. Artiklid/peatükid lisas loetletud kirjastuste välja antud kogumikes (kaasa arvatud Thomson Reuters Book Citation Index, Thomson Reuters Conference Proceedings Citation Index, Scopus refereeritud kogumikud)

Viited terviktekstile

Lisainfo

Sisaldab bibliogr.
elektronlülitused., rikked., algoritmid., arvutiprogrammid., testimine.