See veebileht kasutab küpsiseid kasutaja sessiooni andmete hoidmiseks. Veebilehe kasutamisega nõustute ETISe kasutustingimustega. Loe rohkem
Olen nõus

A Synthesis-Agnostic Behavioral Fault Model for High Gate-Level Fault Coverage

Karputkin, Anton; Raik, Jaan (2016). A Synthesis-Agnostic Behavioral Fault Model for High Gate-Level Fault Coverage. In: ACM/IEEE Design, Automation & Test in Europe Conference (DATE) (1−4). IEEE Computer Society.
kogumikuartikkel/peatükk raamatus/kogumikus
Karputkin, Anton; Raik, Jaan
  • Inglise
ACM/IEEE Design, Automation & Test in Europe Conference (DATE)
IEEE Computer Society
2016
14
Ilmunud
3.1. Artiklid/peatükid lisas loetletud kirjastuste välja antud kogumikes (kaasa arvatud Thomson Reuters Book Citation Index, Thomson Reuters Conference Proceedings Citation Index, Scopus refereeritud kogumikud)

Viited terviktekstile