See veebileht kasutab küpsiseid kasutaja sessiooni andmete hoidmiseks. Veebilehe kasutamisega nõustute ETISe kasutustingimustega. Loe rohkem
Olen nõus

Mutation Analysis with High-Level Decision Diagrams

Hantson, Hanno; Raik, Jaan; di Guglielmo, Giuseppe; Jenihhin, Maksim; Chepurov, Anton; Fummi, Franco; Ubar, Raimund (2010). Mutation Analysis with High-Level Decision Diagrams. 11th Latin-American TestWorkshop, Punta del Este, Uruguay, 28-31.03.2010. IEEE Computer Society Press, 1−6.10.1109/LATW.2010.5550336.
publitseeritud konverentsiettekanne
Hantson, Hanno; Raik, Jaan; di Guglielmo, Giuseppe; Jenihhin, Maksim; Chepurov, Anton; Fummi, Franco; Ubar, Raimund
Mutatsiooni analüüs kõrgtaseme otsustusdiagrammidel
11th Latin-American TestWorkshop, Punta del Este, Uruguay, 28-31.03.2010
IEEE Computer Society Press
978-1-4244-7786-9
2010
16
Ilmunud
3.1. Artiklid/peatükid lisas loetletud kirjastuste välja antud kogumikes (kaasa arvatud Thomson Reuters Book Citation Index, Thomson Reuters Conference Proceedings Citation Index, Scopus refereeritud kogumikud)

Viited terviktekstile

dx.doi.org/10.1109/LATW.2010.5550336