See veebileht kasutab küpsiseid kasutaja sessiooni andmete hoidmiseks. Veebilehe kasutamisega nõustute ETISe kasutustingimustega. Loe rohkem
Olen nõus

Hierarchical Test Generation with Multi-Level Decision Diagram Models

Jervan, Gert; Markus, Antti; Raik, Jaan; Ubar, Raimund (1998). Hierarchical Test Generation with Multi-Level Decision Diagram Models. 7th IEEE North Atlantic Test Workshop, West Greenwich, RI, USA, May 28-29, 1998. IEEE Computer Society Press, 26−33.
publitseeritud konverentsiettekanne
Jervan, Gert; Markus, Antti; Raik, Jaan; Ubar, Raimund
7th IEEE North Atlantic Test Workshop, West Greenwich, RI, USA, May 28-29, 1998
IEEE Computer Society Press
1998
2633
Ilmunud
3.1. Artiklid/peatükid lisas loetletud kirjastuste välja antud kogumikes (kaasa arvatud Thomson Reuters Book Citation Index, Thomson Reuters Conference Proceedings Citation Index, Scopus refereeritud kogumikud)

Viited terviktekstile

Lisainfo