Leakage Currents in 4H-SiC JBS Diodes

Ivanov, P.; Grekhov, I.; Potapov, A.; Kon'kov, O.; Il'inskaya, N.; Samsonova, T.; Korolkov, O.; Sleptsuk, N. (2012). Leakage Currents in 4H-SiC JBS Diodes. Semiconductors, 46 (3), 411−415.10.1134/S106378261203013X.
ajakirjaartikkel
Ivanov, P.; Grekhov, I.; Potapov, A.; Kon'kov, O.; Il'inskaya, N.; Samsonova, T.; Korolkov, O.; Sleptsuk, N.
  • Inglise
Semiconductors
1063-7826
46
3
2012
411415
Ilmunud
1.1. Teadusartiklid, mis on kajastatud Web of Science andmebaasides Science Citation Index Expanded, Social Sciences Citation Index, Arts & Humanities Citation Index ja/või andmebaasis Scopus (v.a. kogumikud)
WOS

Viited terviktekstile

dx.doi.org/10.1134/S106378261203013X