See veebileht kasutab küpsiseid kasutaja sessiooni andmete hoidmiseks. Veebilehe kasutamisega nõustute ETISe kasutustingimustega. Loe rohkem
Olen nõus

Deterministic Defect-Oriented Test Generation for Digital Circuits

Raik, J.; Ubar, R.; Sudbrock, J.; Kuzmicz, W.; Pleskacz, W. (2005). Deterministic Defect-Oriented Test Generation for Digital Circuits. 6th IEEE Latin-American Test Workshop – LATW2005, Salvador de Bahia, Brazil, March 30 - April 2, 2005. IEEE Computer Society, 325−330.
publitseeritud konverentsiettekanne
Raik, J.; Ubar, R.; Sudbrock, J.; Kuzmicz, W.; Pleskacz, W.
6th IEEE Latin-American Test Workshop – LATW2005, Salvador de Bahia, Brazil, March 30 - April 2, 2005
IEEE Computer Society
2005
325330
Ilmunud
3.1. Artiklid/peatükid lisas loetletud kirjastuste välja antud kogumikes (kaasa arvatud Thomson Reuters Book Citation Index, Thomson Reuters Conference Proceedings Citation Index, Scopus refereeritud kogumikud)

Viited terviktekstile