Two-Level Simulation-Based Test Generation for Finite State Machines

Brik, M.; Ubar, R. (1999). Two-Level Simulation-Based Test Generation for Finite State Machines. IEEE 17th NORCHIP Conference, Oslo, Nov. 8-9, 1999. 211−216.
publitseeritud konverentsiettekanne
Brik, M.; Ubar, R.
IEEE 17th NORCHIP Conference, Oslo, Nov. 8-9, 1999
1999
211216
Ilmunud
3.4. Artiklid/ettekanded, mis on avaldatud valdkonda 3.1. mittekuuluvates konverentsikogumikes

Viited terviktekstile

Lisainfo

INSPEC