See veebileht kasutab küpsiseid kasutaja sessiooni andmete hoidmiseks. Veebilehe kasutamisega nõustute ETISe kasutustingimustega. Loe rohkem
Olen nõus

Diagnostic Modelling of Digital Systems with Binary and High-Level Decision Diagrams

Ubar, R.; Raik, J.; Kruus, H.; Lensen, H.; Evartson, T. (2008). Diagnostic Modelling of Digital Systems with Binary and High-Level Decision Diagrams. In: Bonilla, L.L.; Moscoso, M.; Platero, G.; Vega, J.M. (Ed.). Progress in Industrial Mathematics at ECMI 2006 (902−907).. Springer-Verlag. (Mathematics in Industry ; 12).
kogumikuartikkel/peatükk raamatus/kogumikus
Ubar, R.; Raik, J.; Kruus, H.; Lensen, H.; Evartson, T.
  • Inglise
Progress in Industrial Mathematics at ECMI 2006
Bonilla, L.L.; Moscoso, M.; Platero, G.; Vega, J.M.
Springer-Verlag
978-3-540-71991-5
Mathematics in Industry
12
2008
902907
Ilmunud
3.1. Artiklid/peatükid lisas loetletud kirjastuste välja antud kogumikes (kaasa arvatud Thomson Reuters Book Citation Index, Thomson Reuters Conference Proceedings Citation Index, Scopus refereeritud kogumikud)

Viited terviktekstile