Identifying Untestable Faults in Sequential Circuits Using Test Path Constraints

Kirje

Viilukas, Taavi; Karputkin, Anton; Raik, Jaan; Jenihhin, Maksim; Ubar, Raimund; Fujiwara, Hideo (2012). Identifying Untestable Faults in Sequential Circuits Using Test Path Constraints. Journal of Electronic Testing-Theory and Applications, 28 (4), 511−521.

Publikatsiooni tüüp

artikkel ajakirjas

Autorid, kellel on ETISe konto

Autorid

Kui väljale „Autorid, kelle on ETISE konto“ sai lisada ainult neid isikuid, kes on ETISe kasutajad, siis väljale „Autorid“ tuleks sisestada kõigi publikatsiooni autorite nimed formaadis "Perenimi, Eesnimi" või "Perenimi, E.". Mitu nime tuleks eraldada semikooloniga. Nimed tuleks jätta sellisele kujule nagu nad on publikatsiooni originaalis ja seda isegi juhul, kui mõne autori nimi on muutunud (nt abiellumise tõttu). Publikatsioonide otsing otsib nimesid nii väljalt "Autorid, kelle on ETISE konto" kui "Autorid" sisust. Kui seotud isik on toimetaja või koostaja, siis tuleks siia reale sisestada tema nimi ning lisaks ka ttegevuse lühend, nt "Perenimi, Eesnimi (Toim.)"

Viilukas, Taavi; Karputkin, Anton; Raik, Jaan; Jenihhin, Maksim; Ubar, Raimund; Fujiwara, Hideo

Ajakiri / jätkuväljaanne

Journal of Electronic Testing-Theory and Applications

Köide

Välja inglisekeelne vaste on "Volume".

Number

Ilmumisaasta

2012

Leheküljed

511–521

Staatus

Ilmumas publikatsioonide all peetakse silmas neid, mis on väljaandesse või kogumikku vastu võetud (accepted, in press), ent toimetamise või trükiprotsess on veel pooleli. Ilmumas staatusega publikatsioonide puhul on kohustuslik lisada publikatsiooni andmetesse kas DOI või fail, mis sisaldab toimetaja kinnituskirja publikatsiooni ilmumise kohta.

Ilmunud

Klassifikatsioon

1.1. Teadusartiklid, mis on kajastatud Web of Science andmebaasides Science Citation Index Expanded, Social Sciences Citation Index, Arts & Humanities Citation Index, Emerging Sources Citation Index ja/või andmebaasis Scopus (v.a. kogumikud)

Open Access

Teadmata

Klassifikatsiooni täpsustus

WOS

Viited terviktekstile

URL

www.springerlink.com/openurl.asp?genre=arti

Seotud asutused

Asutused

Lisainfo

Projektid

Loobu

Eesti Teadusinfosüsteem

Identifying Untestable Faults in Sequential Circuits Using Test Path Constraints

Viited terviktekstile

Seotud asutused

Lisainfo