See veebileht kasutab küpsiseid kasutaja sessiooni andmete hoidmiseks. Veebilehe kasutamisega nõustute ETISe kasutustingimustega. Loe rohkem
Olen nõus

Multiple-objective backtrace for solving test generation constraints

"Mekler, A.;Raik, Jaan" (2003). Multiple-objective backtrace for solving test generation constraints. Proceedings of the IEEE System-on-Chip Symposium (123−126).. Tampere: IEEE.
kogumikuartikkel/peatükk raamatus/kogumikus
"Mekler, A.;Raik, Jaan"
Proceedings of the IEEE System-on-Chip Symposium
Tampere
IEEE
0-7803-8160-2
2003
123126
Ilmunud
3.1. Artiklid/peatükid lisas loetletud kirjastuste välja antud kogumikes (kaasa arvatud Thomson Reuters Book Citation Index, Thomson Reuters Conference Proceedings Citation Index, Scopus refereeritud kogumikud)

Viited terviktekstile

Seotud asutused

Lisainfo