Characterization of titanium dioxide atomic layer growth from titanium ethoxide and water

Aarik, J.; Aidla, A.; Sammelselg, V.; Uustare, T.; Ritala, M.; Leskela, M. (2000). Characterization of titanium dioxide atomic layer growth from titanium ethoxide and water. Thin Solid Films, 370, 163−172.
ajakirjaartikkel
Aarik, J.; Aidla, A.; Sammelselg, V.; Uustare, T.; Ritala, M.; Leskela, M.
  • Inglise
Thin Solid Films
Elsevier Science SA
0040-6090
370
2000
163172
10
Ilmunud
1.1. Teadusartiklid, mis on kajastatud Web of Science andmebaasides Science Citation Index Expanded, Social Sciences Citation Index, Arts & Humanities Citation Index ja/või andmebaasis Scopus (v.a. kogumikud)
WOS

Viited terviktekstile

Lisainfo

Article
ISI Web of Science