See veebileht kasutab küpsiseid kasutaja sessiooni andmete hoidmiseks. Veebilehe kasutamisega nõustute ETISe kasutustingimustega. Loe rohkem
Olen nõus

High-level path activation technique to speed up sequential circuit test generation

"Raik, Jaan;Ubar, Raimund-Johannes" (1999). High-level path activation technique to speed up sequential circuit test generation. IEEE European Test Workshop (84−89).. University Stuttgart.
kogumikuartikkel/peatükk raamatus/kogumikus
"Raik, Jaan;Ubar, Raimund-Johannes"
IEEE European Test Workshop
University Stuttgart
0-7695-0390-X
1999
8489
Ilmunud
3.4. Artiklid/ettekanded, mis on avaldatud valdkonda 3.1. mittekuuluvates konverentsikogumikes

Viited terviktekstile

Seotud asutused

Lisainfo