See veebileht kasutab küpsiseid kasutaja sessiooni andmete hoidmiseks. Veebilehe kasutamisega nõustute ETISe kasutustingimustega. Loe rohkem
Olen nõus

Sequential Test Set Compaction in LFSR Reseeding

Jutman, Artur; Aleksejev, Igor; Raik, Jaan (2011). Sequential Test Set Compaction in LFSR Reseeding. Design and Test Technology for Dependable Systems-on-Chip (476−493).. Hershey - New York: Information Science Reference IGI Global.
kogumikuartikkel/peatükk raamatus/kogumikus
Jutman, Artur; Aleksejev, Igor; Raik, Jaan
Design and Test Technology for Dependable Systems-on-Chip
Hershey - New York
Information Science Reference IGI Global
978-1-60960-212-3
2011
476493
Ilmunud
3.1. Artiklid/peatükid lisas loetletud kirjastuste välja antud kogumikes (kaasa arvatud Thomson Reuters Book Citation Index, Thomson Reuters Conference Proceedings Citation Index, Scopus refereeritud kogumikud)

Viited terviktekstile