Normale zur Eichung von Schichtdickenmeßgeräten

Laaneots, R.; Velling, A. (1989). Normale zur Eichung von Schichtdickenmeßgeräten. Metrologia wielkos’ci mechanicznych i kontrola jakos’ci produkcji (267−274).. Warszawa: Politechnika Warszawska.
kogumikuartikkel/peatükk raamatus/kogumikus
Laaneots, R.; Velling, A.
  • Saksa
Metrologia wielkos’ci mechanicznych i kontrola jakos’ci produkcji
Warszawa
Politechnika Warszawska
1989
267274
Ilmunud
3.5. Artiklid/ettekanded, mis on avaldatud kohalikes konverentsikogumikes

Viited terviktekstile

Lisainfo