See veebileht kasutab küpsiseid kasutaja sessiooni andmete hoidmiseks. Veebilehe kasutamisega nõustute ETISe kasutustingimustega. Loe rohkem
Olen nõus

Pb and Bi nanoclaster precipitation in high-dose implated and RTA Si: SEM and RHEED analyses

Angelov, Ch.; Mikli, V.; Kalitzova, M.; Beshkov, G. (2000). Pb and Bi nanoclaster precipitation in high-dose implated and RTA Si: SEM and RHEED analyses. Proc.of 11th Conf. ”Materials for Information tech.in the new Millenium”, ISCMP, 2000, Varna: 11th Conf. ”Materials for Information tech.in the new Millenium”, ISCMP, 2000, Varna. 452−455.
publitseeritud konverentsiettekanne
Angelov, Ch.; Mikli, V.; Kalitzova, M.; Beshkov, G.
Proc.of 11th Conf. ”Materials for Information tech.in the new Millenium”, ISCMP, 2000, Varna
11th Conf. ”Materials for Information tech.in the new Millenium”, ISCMP, 2000, Varna
2000
452455
Ilmunud
3.1. Artiklid/peatükid lisas loetletud kirjastuste välja antud kogumikes (kaasa arvatud Thomson Reuters Book Citation Index, Thomson Reuters Conference Proceedings Citation Index, Scopus refereeritud kogumikud)

Viited terviktekstile

Lisainfo