Off-line Testing of Delay Faults in NoC Interconnects

Bengtsson, Tomas; Jutman, Artur; Kumar, Shashi; Peng, Zebo; Ubar, Raimund (2006). Off-line Testing of Delay Faults in NoC Interconnects. EUROMICRO Conference on Digital Systems Design. IEEE, 677−680.
publitseeritud konverentsiettekanne
Bengtsson, Tomas; Jutman, Artur; Kumar, Shashi; Peng, Zebo; Ubar, Raimund
EUROMICRO Conference on Digital Systems Design
IEEE
2006
677680
Ilmunud
3.1. Artiklid/peatükid lisas loetletud kirjastuste välja antud kogumikes (kaasa arvatud Thomson Reuters Book Citation Index, Thomson Reuters Conference Proceedings Citation Index, Scopus refereeritud kogumikud)

Viited terviktekstile