See veebileht kasutab küpsiseid kasutaja sessiooni andmete hoidmiseks. Veebilehe kasutamisega nõustute ETISe kasutustingimustega. Loe rohkem
Olen nõus

Detection efficiency calibration of Si-SPAD detectors via comparison with a Si-Standard diode

Dhoska, K; Hofer, H; López, M; Rodiek, B; Kübarsepp, T; Kück, S. (2016). Detection efficiency calibration of Si-SPAD detectors via comparison with a Si-Standard diode. Proceedings of the 11th International Conference of DAAAM Baltic "Industrial engineering" :20-22th April 2016 Tallinn, Estonia. Tallinn University of Technology, 110−115.
publitseeritud konverentsiettekanne
Dhoska, K; Hofer, H; López, M; Rodiek, B; Kübarsepp, T; Kück, S.
  • Inglise
Detection efficiency calibration of Si-SPAD detectors via comparison with a Si-Standard diode
Proceedings of the 11th International Conference of DAAAM Baltic "Industrial engineering" :20-22th April 2016 Tallinn, Estonia
Tallinn University of Technology
2346-612X
978-9949-23-987-0
2016
110115
Ilmunud
3.1. Artiklid/peatükid lisas loetletud kirjastuste välja antud kogumikes (kaasa arvatud Web of Science Book Citation Index, Web of Science Conference Proceedings Citation Index, Scopus refereeritud kogumikud)
Teadmata

Viited terviktekstile

Lisainfo