See veebileht kasutab küpsiseid kasutaja sessiooni andmete hoidmiseks. Veebilehe kasutamisega nõustute ETISe kasutustingimustega. Loe rohkem
Olen nõus

Exact static compaction of sequential circuit tests using branch-and-bound and search state registration

"Raik, Jaan;Jutman, Artur;Ubar, Raimund-Johannes" (2002). Exact static compaction of sequential circuit tests using branch-and-bound and search state registration. 7th IEEE European Test Workshop (19−20).. [S.l.]: IEEE.
kogumikuartikkel/peatükk raamatus/kogumikus
"Raik, Jaan;Jutman, Artur;Ubar, Raimund-Johannes"
7th IEEE European Test Workshop
[S.l.]
IEEE
2002
1920
Ilmunud
3.1. Artiklid/peatükid lisas loetletud kirjastuste välja antud kogumikes (kaasa arvatud Thomson Reuters Book Citation Index, Thomson Reuters Conference Proceedings Citation Index, Scopus refereeritud kogumikud)

Viited terviktekstile

Seotud asutused

Lisainfo