See veebileht kasutab küpsiseid kasutaja sessiooni andmete hoidmiseks. Veebilehe kasutamisega nõustute ETISe kasutustingimustega. Loe rohkem
Olen nõus

Hierarchical Physical Defect Reasoning in Digital Circuits

Kostin, Sergei; Ubar, Raimund; Raik, Jaan; Brik, Marina (2011). Hierarchical Physical Defect Reasoning in Digital Circuits. Estonian Journal of Engineering, 17 (3), 1−15.
ajakirjaartikkel
Kostin, Sergei; Ubar, Raimund; Raik, Jaan; Brik, Marina
Estonian Journal of Engineering
1736-6038
17
3
2011
115
Ilmunud
1.2. Teadusartiklid teistes rahvusvahelistes teadusajakirjades, millel on registreeritud kood, rahvusvaheline toimetus, rahvusvahelise kolleegiumiga eelretsenseerimine, rahvusvaheline levik ning kättesaadavus ja avatus kaastöödele

Viited terviktekstile