See veebileht kasutab küpsiseid kasutaja sessiooni andmete hoidmiseks. Veebilehe kasutamisega nõustute ETISe kasutustingimustega. Loe rohkem
Olen nõus

A Scalable Technique to Identify True Critical Paths in Sequential Circuits

Ubar, Raimund; Kostin, Sergei; Jenihhin, Maksim; Raik, Jaan (2017). A Scalable Technique to Identify True Critical Paths in Sequential Circuits. In: Proc. of IEEE International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems - DDECS (1−6). Dresden: IEEE Computer Cociety.
kogumikuartikkel/peatükk raamatus/kogumikus
Ubar, Raimund; Kostin, Sergei; Jenihhin, Maksim; Raik, Jaan
  • Inglise
Proc. of IEEE International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems - DDECS
Dresden
IEEE Computer Cociety
2017
16
Ilmunud
3.1. Artiklid/peatükid lisas loetletud kirjastuste välja antud kogumikes (kaasa arvatud Thomson Reuters Book Citation Index, Thomson Reuters Conference Proceedings Citation Index, Scopus refereeritud kogumikud)

Viited terviktekstile

Lisainfo