See veebileht kasutab küpsiseid kasutaja sessiooni andmete hoidmiseks. Veebilehe kasutamisega nõustute ETISe kasutustingimustega. Loe rohkem
Olen nõus

High-Level Path Activation Technique to Speed Up Sequential Circuit Test Generation

Raik, J.; Ubar, R. (1999). High-Level Path Activation Technique to Speed Up Sequential Circuit Test Generation. Proc. of the European Test Workshop, Konstanz, Germany, May 25-28, 1999: European Test Workshop, Konstanz, Germany, May 25-28, 1999. IEEE Computer Society Press, 84−89.
publitseeritud konverentsiettekanne
Raik, J.; Ubar, R.
Proc. of the European Test Workshop, Konstanz, Germany, May 25-28, 1999
European Test Workshop, Konstanz, Germany, May 25-28, 1999
IEEE Computer Society Press
1999
8489
Ilmunud
3.1. Artiklid/peatükid lisas loetletud kirjastuste välja antud kogumikes (kaasa arvatud Thomson Reuters Book Citation Index, Thomson Reuters Conference Proceedings Citation Index, Scopus refereeritud kogumikud)

Viited terviktekstile

Lisainfo

IEEExplore, INSPEC, CSB