See veebileht kasutab küpsiseid kasutaja sessiooni andmete hoidmiseks. Veebilehe kasutamisega nõustute ETISe kasutustingimustega. Loe rohkem
Olen nõus

Microstructural changes and optical properties of laser annealed bismuth-implanted silicon

Pavlov, L.; Angelov, CV.; Mikli, V.; Amov, BG.; Djakov, A. (2002). Microstructural changes and optical properties of laser annealed bismuth-implanted silicon. Vacuum, 69, 119−124.10.1016/S0042-207X(02)00318-4.
ajakirjaartikkel
Pavlov, L.; Angelov, CV.; Mikli, V.; Amov, BG.; Djakov, A.
  • Inglise
Vacuum
Oxford
Pergamon-Elsevier Science Ltd
0042-207X
69
2002
119124
6
Ilmunud
1.1. Teadusartiklid, mis on kajastatud Web of Science andmebaasides Science Citation Index Expanded, Social Sciences Citation Index, Arts & Humanities Citation Index ja/või andmebaasis Scopus (v.a. kogumikud)
WOS

Viited terviktekstile

dx.doi.org/10.1016/S0042-207X(02)00318-4

Lisainfo

Web of Science