Constraint-based Test Pattern Generation at the Register-Transfer Level
Viilukas, Taavi; Raik, Jaan; Jenihhin, Maksim; Ubar, Raimund; Krivenko, Anna (2010). Constraint-based Test Pattern Generation at the Register-Transfer Level. Proceedings of the 13th IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems : April 14–16, 2010 Vienna, Austria. IEEE, 352−357. DOI: 10.1109/DDECS.2010.5491752.
publitseeritud konverentsiettekanne
Viilukas, Taavi; Raik, Jaan; Jenihhin, Maksim; Ubar, Raimund; Krivenko, Anna
- Inglise
Proceedings of the 13th IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems : April 14–16, 2010 Vienna, Austria
IEEE
978-1-4244-6612-2
2010
352–357
Ilmunud
3.1. Artiklid/peatükid lisas loetletud kirjastuste välja antud kogumikes (kaasa arvatud Web of Science Book Citation Index, Web of Science Conference Proceedings Citation Index, Scopus refereeritud kogumikud)
Ei
Viited terviktekstile
Seotud asutused
Lisainfo
- ETF7068 "Kõrgtaseme otsustusdiagrammidel põhinevad digitaalsüsteemide verifitseerimis- ja testimismeetodid (1.01.2007−31.12.2010)", Jaan Raik, Tallinna Tehnikaülikool, Infotehnoloogia teaduskond.
- ETF7483 "Isediagnoosivad digitaalsüsteemid (1.01.2008−31.12.2011)", Raimund Ubar, Tallinna Tehnikaülikool, Infotehnoloogia teaduskond.
- SF0140041s08 "Töökindlate sardsüsteemide disain (1.01.2008−31.12.2013)", Raimund Ubar, Tallinna Tehnikaülikool, Infotehnoloogia teaduskond.
- ETF8478 "Riistvara funktsionaalne verifitseerimine ja silumine (1.01.2010−31.12.2013)", Maksim Jenihhin, Tallinna Tehnikaülikool, Infotehnoloogia teaduskond.