Constraint-based Test Pattern Generation at the Register-Transfer Level
Viilukas, Taavi; Raik, Jaan; Jenihhin, Maksim; Ubar, Raimund; Krivenko, Anna (2010). Constraint-based Test Pattern Generation at the Register-Transfer Level. Proceedings of the 13th IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems : April 14–16, 2010 Vienna, Austria. IEEE, 352−357.10.1109/DDECS.2010.5491752.
publitseeritud konverentsiettekanne
Viilukas, Taavi; Raik, Jaan; Jenihhin, Maksim; Ubar, Raimund; Krivenko, Anna
- Inglise
Proceedings of the 13th IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems : April 14–16, 2010 Vienna, Austria
IEEE
978-1-4244-6612-2
2010
352–357
Ilmunud
3.1. Artiklid/peatükid lisas loetletud kirjastuste välja antud kogumikes (kaasa arvatud Thomson Reuters Book Citation Index, Thomson Reuters Conference Proceedings Citation Index, Scopus refereeritud kogumikud)
Viited terviktekstile
Seotud asutused
Lisainfo
- ETF7068 "Kõrgtaseme otsustusdiagrammidel põhinevad digitaalsüsteemide verifitseerimis- ja testimismeetodid (1.01.2007−31.12.2010)", Jaan Raik, Tallinna Tehnikaülikool, Infotehnoloogia teaduskond.
- ETF7483 "Isediagnoosivad digitaalsüsteemid (1.01.2008−31.12.2011)", Raimund Ubar, Tallinna Tehnikaülikool, Infotehnoloogia teaduskond.
- SF0140041s08 "Töökindlate sardsüsteemide disain (1.01.2008−31.12.2013)", Raimund Ubar, Tallinna Tehnikaülikool, Infotehnoloogia teaduskond.
- ETF8478 "Riistvara funktsionaalne verifitseerimine ja silumine (1.01.2010−31.12.2013)", Maksim Jenihhin, Tallinna Tehnikaülikool, Infotehnoloogia teaduskond.