See veebileht kasutab küpsiseid kasutaja sessiooni andmete hoidmiseks. Veebilehe kasutamisega nõustute ETISe kasutustingimustega. Loe rohkem
Olen nõus

Constraint-based Test Pattern Generation at the Register-Transfer Level

Viilukas, Taavi; Raik, Jaan; Jenihhin, Maksim; Ubar, Raimund; Krivenko, Anna (2010). Constraint-based Test Pattern Generation at the Register-Transfer Level. Proceedings of the 13th IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems : April 14–16, 2010 Vienna, Austria. IEEE, 352−357.10.1109/DDECS.2010.5491752.
publitseeritud konverentsiettekanne
Viilukas, Taavi; Raik, Jaan; Jenihhin, Maksim; Ubar, Raimund; Krivenko, Anna
  • Inglise
Proceedings of the 13th IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems : April 14–16, 2010 Vienna, Austria
IEEE
978-1-4244-6612-2
2010
352357
Ilmunud
3.1. Artiklid/peatükid lisas loetletud kirjastuste välja antud kogumikes (kaasa arvatud Thomson Reuters Book Citation Index, Thomson Reuters Conference Proceedings Citation Index, Scopus refereeritud kogumikud)

Viited terviktekstile

dx.doi.org/10.1109/DDECS.2010.5491752