Fault diagnosis in VLSI devices

Ubar, Raimund-Johannes (1995). Fault diagnosis in VLSI devices. Proceedings of the Estonian Academy of Sciences. Engineering, 1, 51−67.
ajakirjaartikkel
Ubar, Raimund-Johannes
Proceedings of the Estonian Academy of Sciences. Engineering
1406-0175
1
1995
5167
Ilmunud
1.2. Teadusartiklid teistes rahvusvahelistes teadusajakirjades, millel on registreeritud kood, rahvusvaheline toimetus, rahvusvahelise kolleegiumiga eelretsenseerimine, rahvusvaheline levik ning kättesaadavus ja avatus kaastöödele

Viited terviktekstile

Seotud asutused

Lisainfo