See veebileht kasutab küpsiseid kasutaja sessiooni andmete hoidmiseks. Veebilehe kasutamisega nõustute ETISe kasutustingimustega. Loe rohkem
Olen nõus

Hierarchical test generation for combinational circuits with real defects coverage

Cibakova, T.; Fischerova, M.; Gramatova, E.; Kuzmicz, W.; Pleskauz, WA.; Raik, J.; Ubar, R (2002). Hierarchical test generation for combinational circuits with real defects coverage. Microelectronics Reliability, 42 (7), 1141−1149.
ajakirjaartikkel
Cibakova, T.; Fischerova, M.; Gramatova, E.; Kuzmicz, W.; Pleskauz, WA.; Raik, J.; Ubar, R
  • Inglise
Microelectronics Reliability
Oxford
Pergamon-Elsevier Science Ltd
0026-2714
42
7
2002
11411149
9
Ilmunud
1.1. Teadusartiklid, mis on kajastatud Web of Science andmebaasides Science Citation Index Expanded, Social Sciences Citation Index, Arts & Humanities Citation Index ja/või andmebaasis Scopus (v.a. kogumikud)
WOS

Viited terviktekstile

Lisainfo

Web of Science