See veebileht kasutab küpsiseid kasutaja sessiooni andmete hoidmiseks. Veebilehe kasutamisega nõustute ETISe kasutustingimustega. Loe rohkem
Olen nõus

TTBist: a DfT Tool for Enhancing Functional Test for SoC

Hermann, Knut; Raik, Jaan; Jenihhin, Maksim (2006). TTBist: a DfT Tool for Enhancing Functional Test for SoC. Proceedings of the Baltic Electronics Conference: Baltic Electronics Conference, Laulasmaa, oktoober 2006. IEEE, 191−194.
publitseeritud konverentsiettekanne
Hermann, Knut; Raik, Jaan; Jenihhin, Maksim
  • Inglise
Proceedings of the Baltic Electronics Conference
Baltic Electronics Conference, Laulasmaa, oktoober 2006
IEEE
2006
191194
Ilmunud
3.1. Artiklid/peatükid lisas loetletud kirjastuste välja antud kogumikes (kaasa arvatud Thomson Reuters Book Citation Index, Thomson Reuters Conference Proceedings Citation Index, Scopus refereeritud kogumikud)

Viited terviktekstile

Lisainfo