See veebileht kasutab küpsiseid kasutaja sessiooni andmete hoidmiseks. Veebilehe kasutamisega nõustute ETISe kasutustingimustega. Loe rohkem
Olen nõus

An iterative approach to remove the influence of light ray bending from micron-scale scattered light tomography

Hödemann, Siim; Valdmann, Andreas; Kiisk, Valter (2017). An iterative approach to remove the influence of light ray bending from micron-scale scattered light tomography. Optics and Lasers in Engineering, 91, 30−40. DOI: 10.1016/j.optlaseng.2016.11.003.
artikkel ajakirjas
Hödemann, Siim; Valdmann, Andreas; Kiisk, Valter
  • Inglise
Optics and Lasers in Engineering
91
2017
3040
Ilmunud
1.1. Teadusartiklid, mis on kajastatud Web of Science andmebaasides Science Citation Index Expanded, Social Sciences Citation Index, Arts & Humanities Citation Index, Emerging Sources Citation Index ja/või andmebaasis Scopus (v.a. kogumikud)
Ei
SCOPUS

Viited terviktekstile

doi.org/10.1016/j.optlaseng.2016.11.003