See veebileht kasutab küpsiseid kasutaja sessiooni andmete hoidmiseks. Veebilehe kasutamisega nõustute ETISe kasutustingimustega. Loe rohkem
Olen nõus

The dopant concentration profiles in PPy/DDS/Cl and PPy/Cl/DDS bilayers

Hallik, Allan; Alumaa, Ants; Kozlova, Jekaterina; Tamm, Jüri; Sammelselg, Väino (2013). The dopant concentration profiles in PPy/DDS/Cl and PPy/Cl/DDS bilayers. Synthetic Metals, 181, 123−128. DOI: 10.1016/j.synthmet.2013.08.020.
artikkel ajakirjas
Hallik, Allan; Alumaa, Ants; Kozlova, Jekaterina; Tamm, Jüri; Sammelselg, Väino
  • Inglise
Synthetic Metals
0379-6779
181
2013
123128
Ilmunud
1.1. Teadusartiklid, mis on kajastatud Web of Science andmebaasides Science Citation Index Expanded, Social Sciences Citation Index, Arts & Humanities Citation Index, Emerging Sources Citation Index ja/või andmebaasis Scopus (v.a. kogumikud)
Ei
WOS

Viited terviktekstile

doi.org/10.1016/j.synthmet.2013.08.020